Arbeitsgruppe Möller - Universität Duisburg-Essen
Arbeitsgruppe Möller
Fachbereich Physik
Universität Duisburg-Essen
Lotharstr.1-21
Gebäude MG/MF, 2. Etage
47048 Duisburg
Sonderforschungsbereich SFB616
CeNIDE - Center for Nanointegration Duisburg Essen
NETZ - Nano Energie Technik Zentrum
Diplomarbeiten und Bacherlorarbeiten
Surface Science
Physik auf Oberflächen: Atome und Moleküle zum Greifen nah
Die Arbeitsgruppe Möller heißt Sie herzlich auf ihren Seiten willkommen.
Oberflächen spielen in unserem täglichen Leben eine wichtige Rolle. Aufgrund von Reibung an Oberflächen können wir laufen, Auto fahren usw. Andererseits werden durch Reibung wertvolle Energieformen in Verlustwärme umgewandelt. Chemische Prozesse an Oberflächen führen zur Korrosion aber auch zu Katalyse. Aber auch bei der Entwicklung von immer kleineren Strukturen in der Mikroelektronik wird der Einfluss von Ober- und Grenzflächen immer wichtiger.
In der Arbeitsgruppe werden die Eigenschaften von Ober- und Grenzflächen mit einer Vielzahl von sowohl abbildenden als auch spektroskopischen Methoden untersucht.
Neuigkeiten
09.11.2011
Sparkassenpreis für David Krix
Für seine herausragenden Leistungen in seiner Promotion zum Thema "Non-adiabatic effects in the oxidation of alkali metals" wurde David Krix mit dem Sparkassenpreis 2011 der Sparkasse Duisburg ausgezeichnet.
24.10.2011
Aufnahme in die Global Young Faculty
Christian Bobisch wurde in den zweiten Jahrgang der Global Young Faculty aufgenommen. Insgesamt 49 junge Wissenschaftler der im Ruhrgebiet angesiedelten Universitäten und außeruniversitären Forschungseinrichtungen bekommen damit die Möglichkeit, in interdisziplinären Gruppen mit freier Wahl der Themengebiete und Formate in den nächsten 16 Monaten zu arbeiten. Dafür stellt ihnen die die Stiftung Mercator bis zum März 2013 insgesamt 650.000 Euro zur Verfügung.
02.08.2011
Summer School des SFB 616
Johannes Schaffert wurde bei der diesjährigen Summer School des SFB 616 mit einem der 5 "Best Poster Awards" ausgezeichnet...mehr
14.07.2011
Extraschicht für die Physik
Felix Becker, Christian Bobisch, Hermann Nienhaus und Alexander Bernhart haben sich bei der diesfährigen Extraschicht dem Publikum gestellt.
Im red dot Museum auf dem Gelände der Zeche & Kokerei Zollverein konnten interessierte Bürger erfahren, wie man Energie aus der Sonne gewinnen und nutzen kann. Mit vielen interessanten Experimente wurde versucht, geheimisvollen Kräften aus dem Alltagsleben auf die Schliche zu kommen....mehr.
16.02.2011
Vielbeachtete Veröffentlichung aus Post Doc Aufenthalt
Eine Veröffentlichung in Physical Review Letters, die im Rahmen des Post Doc Aufenthalts von Christian Bobisch in der Gruppe von Prof. Wilson Ho an der UC Irvine entstanden ist, erfährt große Beachtung in der wissenschaftlichen Community.
Neben einem Viewpoint Artikel in PRL, Beiträgen in Optics & Photonics News von der Optical Society of America und den Research Highlights in Nature ist sie auch Basis einer Story bei OPFocus.org.
19.01.2011
Streuung von Elektronen im Oberflächenzustand von Bismut
von Christian Bobisch, Maren Cottin, Johannes Schaffert und Rolf Möller
Das Rastertunnelmikroskop (STM) erlaubt es, die Streuung von Elektronen im Oberflächenzustand einer Bi(111) Oberfläche an Punktdefekten zu visualisieren. Wie in (Apl. 98 022108 (2011)) gezeigt, kann man die Variation der lokalen Zustandsdichte (LDOS) in dI/dV Bildern aufnehmen und daraus die beteiligten Streuvektoren extrahieren. Dies ermöglicht Rückschlüsse auf den Zusammenhang zwischen Ladungstransport und der Morphologie der Oberfläche.
09.08.2010
Auszeichnung für Maren Cottin
Maren Cottin, die gerade mit Ihrer Promotion in unserer Arbeitsgruppe begonnen hat, hat sich erfolgreich für ein Promotionsstipendium der Studienstiftung des deutschen Volkes beworben...mehr
29.01.2010
Heiße Ladungsträger beim Wachstum von Metallen
von Ulrich Hagemann, David Krix und Hermann Nienhaus
Mithilfe von Chemostrommessungen an Magnesium-Silizium-Dioden ist es gelungen nachzuweisen, dass bei der Kondensation von Metallatomen auf Oberflächen das elektronische System angeregt wird. Bringt man eine solche Diode vor einen thermischen Mg-Verdampfer mit entsprechender Temperatur ist ein Strom durch die Diode messbar. Die nebenstehende Abbildung zeigt, dass es gelungen ist die verschiedenen Stromanteile zu trennen und einen deutlichen Einfluss der Mg-Kondensation auf den Gesamtstrom nachzuweisen. mehr...
29.10.2009
Ehrung für Hatice Karacuban
Hatice Karacuban (links im Bild) wurde für ihre Leistungen in Studium und Lehre ausgezeichnet... mehr
30.04.2009
Ohms Gesetz auf der Nanometerskala
Von Alexander Bernhart, Mark Kaspers, Christian Bobisch und Rolf Möller
Mit Hilfe eines Rastertunnelmikroskops kann man neben der Topografie auch die Potentialverteilung von Oberflächen analysieren. Im nebenstehenden Bild ist oben die Topogragie einer Silber/Silizium-Oberfläche zu sehen. Das Inset zeigt, wie mit Hilfe von zwei Tunnelspitzen ein Strom durch diese Oberfläche geschickt wird. Eine Dritte Tunnelspitze kann dann simultan zum Topografiesignal eine entsprechende Potentiallandschaft aufzeichnen (Bild darunter, blau:0mV/rot:+6mV). So ist is gelungen Potentialsprünge und damit Widerstände atomarer Stufen und Korngrenzen mit quasi atomarer Ortsauflösung zu bestimmen.
Näheres dazu in Nano Letters 9, 1588 (2009).
28.11.2008
MIM Dioden mit BEEM vermessen
Von Alexander Bernhart, Mark Kaspers, Christian Bobisch und Rolf Möller
Im Teilprojekt C1 ist es am Nanoprobe gelungen, den Transport heisser Ladungsträger durch MIM-Dioden zu messen. Die MIM-Dioden werden dabei im Nanoprobe kontaktiert, so dass mit einer der Tunnelspitzen heisse Ladungsträger injiziert werden können. Mit dieser Methode ist es möglich, die Transmission durch MIM-Dioden ortsaufgelöst zu bestimmen.
06.03.2008
Organische Nanodrähte
Von Markus Fendrich, Manfred Lange und Rolf Möller
Das organische Molekül N,N’-Dimethylperylen-3,4,9,10-bis(dicarboximid) (DiMe-PTCDI) bildet auf Kaliumbromid-Oberflächen lange „Drähte“, die von den Stufenkanten des Substrates aus über die Terrassen wachsen. Das Bild links zeigt solche Drähte auf einer Fläche von 400 x 400 nm². Siehe auch: M. Fendrich and T. Kunstmann, Appl. Phys. Lett 91, 023101 (2007)











